0nmからの低（残留）リタデーション測定に

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  • 低リタデーション測定装置
  • RE-100

●0.1秒の超高速リタデーション測定
●光軸とリタデーションの同時検出が可能

 

フィッティング・フーリエ変換をして
楕円率ε、方位角γを算出します。

 

フォトニック結晶素子（偏光素子）、CCDカメラで構成された偏光計測モジュールと、透過の偏光光学系を組み合わせて、高速かつ高精度な位相差（リタデーション）、および主軸方位角の測定をおこなうことができる装置です。
偏光強度パターンをCCDカメラの１ショットで取得するため偏光子回転のための機構もなく、システム全体としてコンパクトな構成になっており、長時間の使用に対しても安定した性能を維持できます。

 

 

 

製品情報

特長

 

● 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能です。

● 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能です。
　（世界最速相当0.1秒以下での処理が可能）

● 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現しています。

● 設定する測定項目が少なく、測定が簡単です。

● 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップしています。

● Rth測定、全方位角測定が可能です。
　（オプションの自動回転傾斜治具が必要です。）

● 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能となります。
　（このシステムは特注対応となります。）

小型分析用二軸延伸機はこちら

 

 測定項目

・リタデーション （ρ[deg.], Re[nm]）
・主軸方位角 （θ[deg.]）
・楕円率 （ε）・方位角（γ）
・三次元屈折率 （NxNyNz）

 

 

用途

位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみなど）

 

仕様

リタデーション測定範囲 約0nm ～ 約10μm
リタデーション繰り返し精度 0.05nm （at 3σ） *
軸検出繰り返し精度 0.05°（at 3σ）*

*水晶波長板（約55nm、2枚型）で測定