最高クラスの分解能で粒度分布を測定

高分解能　粒径差5％

単分散粒子の場合、2.5％の粒径差があれば完全なピークとして検出できます。
さらに、1.5％の粒径差でも部分的なピークとして検出可能です。

粒形0.343μm、0.372μmの単分散ポリスチレンラテックスの混合試料を18.000rpmで分析

高感度　0.01μｇ

単分散粒子であれば、検出下限濃度は0.01μｇです。
多くの場合ほんの少量の試料があれば検出できます。

高感度の検出能力は、ルーチン分析で使用されるμｇの試料量では高精度な結果をいつでも保証しています。

校正用標準粒子ポリスチレンラテックスを用いて
粒子濃度10μｇ、1μｇ、0.1μｇ、0.01μｇで得られた結果の重ね書き比較データ

高精度　±0.5％

全ての分析は既知の校正用標準粒子に対して行われますので、いつでも精度が保証できます。

校正は次の2つの方法のいずれかで行われています。
外部校正：試料測定直前に標準粒子で実行
内部校正：試料に標準粒子を混入して実行
外部校正用標準粒子の精度は、±0.5％です。
内部校正用標準粒子の制度は、±0.25％です。

このような校正により、高精度で再現性の高い結果がいつでも得ることが可能です。

幅広いダイナミックレンジ　0.01～40μm

ダイナミックレンジは、一回の分析で測定可能な最大粒径/最小粒径の比です。
本機の実際のダイナミックレンジは、固定回転数モードでは60、可変回転数（スピードランプ）モードでは約1.000です。
可変回転数モードの幅広いダイナミックレンジにより、ブロードな粒度分布の試料でも超高分解能な分析が可能です。

用途