1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム

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  • 株式会社アントンパール・ジャパン　多目的X線散乱装置 SAXpoint 5.0

SAXSpoint 5.0は、大気下/非大気下で
ほぼ全ての材料分析に柔軟に対応します。
多くのオプション機能を備えたSAXSpoint 5.0は、
将来的にマイクロメートル規模での
アプリケーション (USAXS) にも対応可能です。

全自動測定とデータ分析を可能にする強力な
ソフトウェアパッケージにより、
材料特性の非破壊検査がさらに容易になります。

 

製品情報

特徴

●高性能光化学系が実現する高強度ポイントビーム
●ボタン一つで小角⇔広角を瞬時に切り替え
●多岐にわたるサンプルや測定条件に対応
●SAXSとWAXSの同時測定
●X線散乱測定に必要な各種ルーティン作業の自動化

 

仕様

q-range ： 0.01 nm-1 ～ 49.3 nm-1
観測可能な面間隔：0.12nm～628nm
温度範囲：‐150℃～＋600℃
雰囲気：真空/空気（乾燥・調湿）/不活性ガス

サンプル例

●界面性活性剤
　・粒子形状
　・内部構造

●高分子
　・網目サイズ
　・変形中の構造

●CNF/CNT
　・棒断面の構造
　・バンドルのサイズ

●タンパク質/抗体
　・立体構造/会合状態
　・変形の有無

●薄膜
　・膜表層の構造
　・深さ方向の構造

●無機ナノ粒子
　・粒子径
　・粒度分布

 

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