大型試料対応 プレミアムAFM Dimension XR

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  • ブルカージャパン株式会社 Dimension XR

世界で最も利用されている大型試料対応AFM プラットフォームを
ベースにした最新のDimension®システムは、何十年にもわたる
技術革新と顧客フィードバックを基に開発された
業界をリードするシステムです。

このシステムは革新的な低ドリフトと低ノイズを提供するために
設計されており、ユーザーは数分でアーティファクトフリーの
画像を得ることができます。
Dimension Icon には、独自のScanAsyst® 自動画像最適化技術が
搭載されており、ユーザースキルに関係なく簡単で高速で安定した
結果が得られます。

 

製品情報

特徴

Brukerの前身であるDigital Instruments社は1987年に世界に先駆けてAFM/SPMを商品化しました。
以降Veeco社を経て分析機器リーディングカンパニーであるBrukerグループとして
AFM(原子間力顕微鏡)を世界の研究者に提供しています。
私たちはトップランナーとして、アプリケーションニーズに合った最先端の技術でお客さの研究開発を支えています。

FastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Research(XR)SPM ファミリーは、
PeakForce Tapping®,をコア技術とし、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台です。

Dimension XR Nano Mechanics    機械特性評価パッケージ

Dimension XR NanoElectrical     電気特性評価パッケージ

Dimension XR NanoElectroChemial  電気化学顕微鏡パッケージ

 

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