製品のご紹介
製品のご紹介
世界で最も利用されている大型試料対応AFM プラットフォームを
ベースにした最新のDimension®システムは、何十年にもわたる
技術革新と顧客フィードバックを基に開発された
業界をリードするシステムです。
このシステムは革新的な低ドリフトと低ノイズを提供するために
設計されており、ユーザーは数分でアーティファクトフリーの
画像を得ることができます。
Dimension Icon には、独自のScanAsyst® 自動画像最適化技術が
搭載されており、ユーザースキルに関係なく簡単で高速で安定した
結果が得られます。
Brukerの前身であるDigital Instruments社は1987年に世界に先駆けてAFM/SPMを商品化しました。
以降Veeco社を経て分析機器リーディングカンパニーであるBrukerグループとして
AFM(原子間力顕微鏡)を世界の研究者に提供しています。
私たちはトップランナーとして、アプリケーションニーズに合った最先端の技術でお客さの研究開発を支えています。
FastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Research(XR)SPM ファミリーは、
PeakForce Tapping®,をコア技術とし、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台です。
Dimension XR Nano Mechanics 機械特性評価パッケージ
Dimension XR NanoElectrical 電気特性評価パッケージ
Dimension XR NanoElectroChemial 電気化学顕微鏡パッケージ