ナノスケール赤外分光分析システム nanoIR3

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  • ブルカージャパン株式会社 nanoIR3

AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で
最高10nm以下領域(空間分解能)における赤外スペクトル、
赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、
局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。

・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル
・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供
・ポイントスペクトラ、高速でのフルスペクトラマッピングを実現
・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上
・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ

 

製品情報

特徴

■ 10 nm を超える分解能のケミカルイメージ (Tapping AFM-IR)
■ 最高性能のナノスケール FT-IR スペクトル (HYPERspectra)
■ ナノスケール材料特性マッピング
■ FT-IR データベースと高い相関

Atomic Force Microscopy-based InfraRed spectroscopy(AFM-IR) は、AFM プローブを利用して赤外光の吸収にともなう
サンプルの熱膨張を局所的に検出します。これにより、AFM の空間分解能及び物質の赤外光吸収特性に基づくナノ局所場の
化学分析と、化学的特性の空間分布を示すケミカルイメージの取得を可能とします。

NanoIR3 は、これまで業界を牽引してきたAFM-IR のシステム上に独自の技術を取り入れた最新の装置であり、
マテリアルサイエンス及びライフサイエンスの様々なアプリケーションに対して、高性能のナノスケール A2IR
スペクトル測定、ケミカルイメージング、そして材料特性マッピングを実現する統合分析装置です。

 

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