赤外・ラマン技術セミナー 2019

 
「赤外・ラマン技術セミナー」、今回は”最先端の分析手法を用いた微小領域へのアプローチ”をテーマに、赤外・ラマン分光法に加え、高い空間分解能を有する各種分析装置の最新技術やその応用、さらには業務を効率的に進めるコツなど、技術セミナーでしか聞けない情報がたくさんございます。
 
ご参加をお待ちしております。
 
開催日 大阪会場 2019年11月26日(火)
東京会場 2019年11月29日(金)
時 間 13:00~17:00
場 所 ◇大阪会場
 ナレッジキャピタル カンファレンスルーム タワーB 「RoomB5+6」
▼地図を見る

◇東京会場
 ベルサール八重洲 「Room4+5」
▼地図を見る

参 加 料 金 無料(事前登録制)
定 員 大阪会場:60名(先着順)
東京会場:100名(先着順)

 

講演内容

招待講演 1 異物分析における分析精度向上と効率化の両立を目指して
講師:北村 卓也 様 – 三菱ケミカル株式会社 分析物性研究所 滋賀研究室 山東グループ
招待講演 2 微小領域における赤外分光法を用いた高分子材料分析
講師:三橋 和成 様 – 株式会社東レリサーチセンター 構造化学研究部構造化学第2研究室
一般講演 1 ここまで進化! 最新の顕微FT‐IRイメージングシステムの紹介と測定事例
講師:松原 智之 様 – ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部 アプリケーション部 
一般講演 2? 超軽元素分析対応 μ-XRFによる異物分析の展望
講師:水平 学 様 – ブルカージャパン株式会社 ナノ分析事業部 XMA セールスマネージャー 

 

セミナー内容の詳細はこちらをご覧ください(PDF)

 

お申込みはこちら

一覧に戻る