微小異物の前処理及び分析・解析セミナー

日時 2020年7月8日(水)13:30~14:30 
協賛 ブルカージャパン株式会社、株式会社マイクロサポート

 

講演内容
13:30-14:00 顕微赤外測定の基礎と新製品「LUMOSⅡ」の紹介
講師:ブルカージャパン株式会社 松原 智之 様
顕微赤外測定では、試料の性状に合わせた測定手法の選択が必要です。本発表では測定手法に合わせた試料の調整法について紹介します。
併せて、高速イメージング測定に対応した新型のフルオートFT-IR顕微鏡「LUMOSⅡ」の特徴と測定例について紹介します。
14:00-14:30 顕微分析に有効なマイクロサンプリング技術の紹介
講師:株式会社マイクロサポート 伊藤 慶 様
弊社では顕微分析の前処理に役立つ機器やツールを取り揃えております。
誰でも簡単に使える実体顕微鏡下でのトリミング機器の実用例やその他マイクロツールとマニピュレーターをご紹介いたします。
 
申込は締め切らせて頂きました。

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