HOME > 商品のご紹介 > 実装基板や材料基板の実測定が可能に!!高周波誘電率測定システム 株式会社三ツワフロンテック
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高周波誘電率測定システム
実装基板や材料基板の実測定が可能に!!
 
特長
高周波領域(〜10MHz)でのC-V測定が可能
I-V微小電流測定(ノイズ:10pA以下)※オプションで10fA以下対応可能
温度可変(常温〜70℃)※オプションで-65℃〜400℃対応可能
 
 
測定項目 C-V測定/I-V測定
表面 ─ チャック間(プローブ使用)
表面 ─ 表面間
測定用波数 40kHz〜10MHz
測定温度 常温〜70℃(オプション-65℃〜400℃)
 
アプリケーション
有機材料 液晶材料、感光材料、レジスト材料、トナー材料、高分子電解質燃料電池、コンデンサー材料
セラミック材料   半導体絶縁材料、電子部品、センサー材料、強誘電率材料、セラミック電解質、燃料電池
  高抵抗基板、デバイス絶縁体 等
 
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