HOME > 商品のご紹介 > ニューマテリアル分野 > 光学フィルムINDEX 株式会社三ツワフロンテック
MITSUWA RIKAGAKU ロゴマーク MITAUWA RIKAGAKU WEB SITE
HOME 分野別情報 困りごとFAQルーム 会社案内 採用情報 環境情報 リンク サイトマップ
お問い合せ
ニューマテリアル分野
 
光学フィルム INDEX

光学フィルム
光学フィルム
FPD分野などで利用される光学フィルムについて、延伸や乾燥・硬化、ナノ粒子に 関する機器の他、断層解析、フィルム物性、光学特性、バリア性などの評価機器 や検査機器をご紹介しています。 全11頁。

 
 
■延伸関連
標準タイプの二軸延伸機 卓上二軸延伸機 P1
実験に適した同時二軸延伸装置 二軸延伸装置 P1
その場・実時間観察が可能な小型延伸機 観察用二軸延伸機 P1
0nmからの低(残留)リタデーション測定に! 低リタデーション測定装置 P1
■ナノ粒子関連
0.015mm ビーズ使用可能な超微粉砕機・分散機 超微粉砕機・分散機 P2
0.1〜50vol%の高濃度の粒径測定が可能 超音波式粒度分布 P2
粒子濃度が高い系での分散・凝集についてお困りの方、お気軽にご連絡下さい。 武田コロイドテクノ・コンサルティング( 株) P2
■乾燥・硬化
熱風乾燥で問題とされる表面乾燥ムラを赤外ランプで解決! 防爆赤外ランプ P3
酸素阻害反応なしに薄膜の硬化が可能 パルスUV ランプ P3
LEDを用いた面照射UV光源 面照射UV-LED パネル P3
ありそうで?無かった、加圧・真空熱処理技術! P4
乾燥状態の評価・残留溶媒の確認に! 表面乾燥過程測定装置 P5
UV硬化樹脂の硬化度合いを非接触・非破壊で測定できます 蛍光強度測定装置 P5
■断層解析
フィルム・ガラスの深さ方向の解析に 非接触表面・層断面形状計測システム P6
界面密着強度の測定、斜め切削による深さ方向の分析前処理 表面・界面物性解析装置 P6
超薄膜のpmの押し込み深さ 超微小硬さ試験システム P6
卓上で観察できます 超小型走査型電子顕微鏡 P6
■フィルム物性評価
種々の水蒸気濃度でのTMA測定が可能です 水蒸気雰囲気熱機械分析(TMA) P7
恒湿下における動的粘弾性測定 動的粘弾性測定装置 P7
簡単・手軽に、精密空調を実現します! 局所精密空調システム P7
■光学特性評価
0nm からの低(残留)リタデーション測定に! 低リタデーション測定装置 P8
拡散フィルム・拡散板・反射板等の反射分布・透過分布を測定します 分光式変角色差計 P8
高透明性サンプルでも、精度よく測定可能 ヘーズメーター P8
屈折率傾斜膜の深さ方向の屈折率測定 高速分光エリプソメーター P8
材質の散乱特性、ディスプレイの視野角特性などを、全方位一度に測定可能 高速配光測定システム P9
コントラスト視野角特性だけでなく、色合いの視野角特性に 視野角特性評価 P9
■検査
CCD方式では見えない微小欠陥・特殊欠陥を検出可能 レーザー走査式欠陥検査装置 P10
今まで目視でしか評価できなかった、フィルム表面のムラ・うねり・梨地などを大面積で評価可能です フィルム表面検査システム P10
■ガスバリアフィルム関連
カルシウム腐食法を用いながら、透湿度を簡便に定量化することを可能にしました 超微量透湿度測定システム P11
従来困難であった低透過量の各種ガス透過率が可能に! バリア性評価装置 P11
 
お問い合せ HOME BACK TOP
Copyright Mitsuwa Frontech Corp. All Right Reserved.