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■『第16回 ファインテックジャパン』に出展します!■
「第16回 ファインテック・ジャパン(フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展)」は、液晶・プラズマ・有機ELなどのFPDの研究開発・製造に関するあらゆる機器・技術を一堂に集めた世界最大の専門技術展です。
三ツワ理化学は、この展示会に出展いたします。皆様の御来場をお待ちしておりますので、この機会に是非お立ち寄りください。.
 
◆開催概要
展示会名 第16回 ファインテック・ジャパン
(フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展)
日時 2006年4月19日(水)〜4月21日(金) 10:00〜17:00
場所 東京ビッグサイト
三ツワ理化学 ブース 37-36(検査・リペア・測定ゾーン)  →ブース場所はこちら
出展品

■有機EL素子・パネル用不良解析検査装置
■超微小硬さ試験システム
■表面・界面物性解析装置
■非接触リアルタイム表面洗浄度検査装置
■自動極小接触角計
■フレキソ印刷校正機

★無料招待券ご希望の方はこちらよりご請求ください★
 
◆展示品
■有機EL素子・パネル用不良解析検査装置
有機ELの潜在欠陥箇所の特定に!
実像+電流リーク不良に夜発光点の像
★製品・技術PRセミナーにて発表致します★
★是非お立ち寄りください(受講無料)★
『有機EL素子(パネル)の
潜在不良箇所検出について』
日時:4月19日(水)14:00〜15:00
場所:東6ホール セミナー会場
有機ELディスプレイの開発・製造において、
初期状態では判別困難な、
潜在不良箇所の判定が可能な
装置をご紹介します。
※受講希望の方は、直接会場へお越し下さい。
 
■超微小硬さ試験システム   ■表面・界面物性解析装置   ■自動極小接触角計
超微小硬さ試験システム   表面・界面物性解析装置   自動極小接触角計
フィルム上の薄膜の
硬さ測定に!
超薄膜の「pm」押込み深さ
「nN」の荷重測定が可能
  有機薄膜の
深さ方向分析に!
斜め切削方で
TOF-SIMSなどの
サンプルを作成
  極小領域の
濡性評価に最適。
バンク内部の評価にも
使用可能です
         
■非接触リアルタイム 表面洗浄度検査装置   ■フレキソ印刷校正機
非接触リアルタイム 表面洗浄度検査装置   フレキソ印刷校正機
表面の洗浄状態の測定に。
簡便に管理ができます
  UVインキが使用可能で、
印刷の基礎実験に最適です
◆ブース位置
〜当社ブースへぜひお立ち寄りください〜
三ツワブース位置(37-36) 三ツワブース位置(37-36) 三ツワブース位置(37-36)
三ツワブース位置(37-36) 三ツワブース位置(37-36) 三ツワブース位置(37-36)
 
 
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