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■『第15回 フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展』出展のご報告■
 
 
 今回の第15回フラットパネルディスプレイ製造技術展では、 おかげさまで、弊社ブースに大勢のお客様にお越し頂くことができました。 誠にありがとうございました。
 次回の出展の際にもどうぞよろしくお願い申し上げます。
         
   
 
 
 
 
 
■『第15回 フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展』に出展します!■
第15回 フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展(通称ファインテック・ジャパン)」は、液晶・プラズマ・有機ELなどのFPDの研究開発・製造に関するあらゆる機器・技術を一堂に集めた世界最大の専門技術展です。
三ツワ理化学は、この展示会に出展いたします。皆様の御来場をお待ちしておりますので、この機会に是非お立ち寄りください。.
 
◆開催概要
展示会名 第15回 フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展
(通称ファインテック・ジャパン)
日時 2005年4月20日(水)〜4月22日(金) 10:00〜17:00
場所 東京ビッグサイト
三ツワ理化学 ブース 23-18 (→ブース場所はこちら
出展品

◆有機EL素子用不良解析検査装置
◆パラレル精製システム Purif-α2
◆有機EL原材料精製装置 P-100
◆Kコントロールコーター K101
◆新対向ターゲット式スパッタ NFTS(カソードを展示いたします)
◆スプレーコータ
◆SAICAS DN-20型
◆超微小硬さ試験技術 ピコデンター
◆ガス透過測定装置

★無料招待券ご希望の方はこちらよりご請求ください★
 
 
◆出展内容
FPD Solution<表面>
展示品
 
有機EL素子用不良解析検査装置
ダークスポット、コメット上の不良有機ELの潜在欠陥箇所の特定に!
 
製品・技術PRセミナー(受講無料)にて発表いたします。是非お立ち寄りください。
 
『有機EL素子用不良解析検査の提案』
非破壊で有機EL素子の潜在不良箇所の特定が可能な装置を開発いたしました。
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4月21日(木) 14:00〜15:00
B会場(東3ホール内特設会場)
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※受講希望の方は、直接会場へお越し下さい。
 
昇華精製前の原材料純度向上に!パラレル精製システム Purif-α2 有機EL原材料の数グラム単位の精製が可能!有機EL原材料精製装置 P-100
   
   
種々の被塗物への塗布に!速度・印圧のコントロールが可能!KコントロールコーターK101 有機物ELなどの有機薄膜・有機サンプルへの成膜に!新対向ターゲット式スパッタNFTS
  →詳細情報はこちらをクリック
   
パルススプレー方式により種々の薄膜の作成が可能!スプレーコーター 有機薄膜へ深さ方向分析に!斜め切削法でTOF-SIMSなどのサンプルを作成 SAICAS DN-20型
  →詳細情報はこちらをクリック
   
フィルム上の薄膜の硬さ測定に!超薄膜の「pm」押込み深さ「nN」の荷重測定が可能 超微小硬さ試験技術 ピコデンター 透湿度・ガス透過度測定を短時間かつ高感度に測定できます ガス透過測定装置
→詳細情報はこちらをクリック  
当社ブース場所
三ツワブース23-18 三ツワブース23-18
三ツワブース23-18 三ツワブース23-18
〜当社ブースへぜひお立ち寄りください〜
 
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