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超音波方式粒度分布・ゼータ電位測定装置 DT-1200/300
希釈不要で50vol%まで測定可能
超音波の減衰やコロイド振動電流から粒度分布やゼータ電位を測定します。
微粒子分散系の分散・凝集状態を的確に把握し、制御することは新製品開発のキーテクノロジーです。
実用系での粒子の分散状態・表面電気化学特性が評価できるため、顔料、ナノ粒子、電子材料、CMPスラリーを含め、最先端の製品研究開発分野で多数のご利用頂いております。
DT-1200外観
ゼータ電位測定装置原理
 
 
 
特長
原液測定 希釈不要、0.1〜50vol%まで測定可能
超音波の採用により、原液で測定できます。実液そのままの状態で測定できるので、実液の傾向を反映した結果が得られます。希釈して測定した結果が、実液の傾向と一致せず、実液では差があるのに、希釈して測定すると差が出なかったり、希釈によりソルベントショックが発生し粒子が凝集してうまく測定出来ない場合があります。レーザー式の場合、粒子濃度が濃くなると多重散乱が発生して粒度分布が正しく測定できない場合があります。特に、光子相関法や後方光散乱法で10重量%程度の濃厚系を測定した場合、多重散乱がおきていないかどうかを検証するために濃度を変えて測定する必要があり、余分な手間がかかります。

高精度測定 複雑な光散乱から開放
超音波減衰率の測定から粒度分布を演算。既知標準粒子での校正は不要です。  レーザー光散乱法に見られる屈折率の問題を回避できます。測定に使用するパラメータは、文献値や実測値が利用できます。レーザー式の場合、屈折率をどのように決めたらよいかわからない場合があります。特に虚数項が屈折率に加わる場合、虚数項の決め方が良くわからない場合があります。レーザー式で使用される屈折率は装置常数であり、実測値や文献値ではありません。

超ワイドな測定レンジ 5nm〜1000μm(ゼータ電位は<100μm
コロイド微粒子分散系に最適な測定レンジ

ゼータ電位の同時測定 等電点や安定性の評価
粒度分布の測定と同時にゼータ電位を測定します。分散剤の効果やpH滴定による等電点から分散安定条件を評価できます

良好な再現性

レーザー式の場合、同じサンプルを循環して連続測定しているのに、粒度分布の測定結果が測定毎に異なるのでどのデータを採用したらよいかわからない場合があります。

サンプルの色の影響が全くありません

レーザー式の場合、サンプルの色によりうまく測定出来ない場合があります。また、レーザー式の場合、真黒い粒子や無色透明な粒子では、散乱光が生じないので、正しく粒度分布が測定出来ない場合があります。
プロセスの評価は万全ですか?
 
粉体関連技術で不具合の原因となる点
粉体関連技術で不具合の原因となる点
・ロット内、ロット間の差が気になる。
・製品に季節変動がある。
・晴れた日と雨の日で歩留まりが異なる。
・空気に晒しておいた時間によって表面特性が異なる。
・溶媒とのなじみが日々異なる。
・スラリーがゲル化するときがある。
・スラリーの寿命がロットで異なる。
・原料の仕入れ先を変えると歩留まりが下がった。
・粉砕機を変えると製品の特性が変わった。
・製造規模の拡大により歩留まりが落ちた。
・クレーム対応用に原料のデータベース化を簡単に行いたい。

上記のことでお困りの際は、ご相談ください。様々な新規評価法を御紹介致します。
 
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