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低リタデーション測定装置 RE-100
 
0nmからの低(残留)リタデーション測定に!
 
●0.1秒の超高速リタデーション測定
●光軸とリタデーションの同時検出が可能
低リタデーション測定装置RE-100外観
受光強度、偏光子アレイ角度グラフ
フィッティング・フーリエ変換をして
楕円率ε、方位角γを算出します。
 
フォトニック結晶素子(偏光素子)、CCDカメラで構成された偏光計測モジュールと、透過の偏光光学系を組み合わせて、高速かつ高精度な位相差(リタデーション)、および主軸方位角の測定をおこなうことができる装置です。
偏光強度パターンをCCDカメラの1ショットで取得するため偏光子回転のための機構もなく、システム全体としてコンパクトな構成になっており、長時間の使用に対しても安定した性能を維持できます。
特長
 
0nmからの低(残留)リタデーション測定が可能です。

光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能です。
 (世界最速相当0.1秒以下での処理が可能)

駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現しています。

設定する測定項目が少なく、測定が簡単です。

測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップしています。

Rth測定、全方位角測定が可能です。
 (オプションの自動回転傾斜治具が必要です。)

引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能となります。
 (このシステムは特注対応となります。)

小型分析用二軸延伸機はこちら
 
測定項目
 
・リタデーション(ρ[deg.], Re[nm])
・主軸方位角(θ[deg.])
・楕円率(ε)・方位角(γ)
・三次元屈折率(NxNyNz)
光学素子の配置と測定原理
 
用途
 
位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの(ガラスにひずみなど)
 
仕様
 
リタデーション測定範囲    約0nm 〜 約10μm
リタデーション繰り返し精度  0.05nm (at 3σ) *
軸検出繰り返し精度      0.05°(at 3σ)*
*水晶波長板(約55nm、2枚型)で測定
 
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