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比表面積・細孔分布測定装置 QUADRASORB
4つの独立ステーションが同時に測定。
比表面積・細孔分布測定装置 QUADRASORB外観
 
独立4ステーション型 比表面積・細孔分布測定装置 QUADRASORB SIは、使いやすさ、高いコスト効率及び、優れた分析処理能力を必要とする研究室や分析室のニーズに合わせて設計されています。
4つのステーションは独立して同時に処理を行います。
他のステーションが測定を終了するのを待つ必要がないため、効率良く測定を行うことが可能です。
特長

比表面積・細孔容積・細孔分布測定用 完全4ステーション独立型ガス吸着量測定装置です。

詳細な細孔構造を検出できる高分解能な吸着・脱離等温線の測定を行えます。

4つの測定ステーションに、それぞれ独立した冷媒デュワー瓶、圧力センサーおよびPo(飽和蒸気圧)測定セルを装備しているため、同時測定が可能です。
このことにより高い処理能力と優れた操作性を実現しています。

4つの測定ステーションは、測定条件を個別にプログラムできます。

測定ステーションが独立しているため、測定が完了すると直ぐに次のサンプルの測定を開始できます。

低表面積・ミクロ細孔測定用モデル
標準型QUADRASORB SIの全機能に加え、
クリプトン吸着による低表面積測定、および低相対圧測定によるミクロ細孔の解析を行えます。

低圧(0-10torr)センサーおよびターボ分子ポンプ真空システムを組み込んでいます。

機能膜、半導体用Low-K膜、医薬品原末、金属粉などの非常に低い表面責の物質に対してクリプトンガス吸着測定を行えます。

ゼオライト、活性炭、カーボンナノチューブ、分子篩など、ミクロ細孔を持つ物質のキャラクタリゼーション評価に必要な低圧吸着等温線(P/Po=4×10-5 以上)を測定できます。

 
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